残差X-图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力

姜永康, 王静龙

残差X-图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力

详细信息
  • 中图分类号: O213.1

Detection Capability of Residual X-Chart for Stationary Reversible ARMA Process Data

  • 摘要: 本文将SPC (Statistical Process Control)技术应用于自相关数据,使用的基本方法是对数据做残差处理,本文给出了对于平稳可逆的ARMA过程数据,在检验过程均值变化方面,残差X-图优于X-图的条件。
    Abstract: In the statistical process control environment a primary method to deal with auto-correlated data is the use of a residual chart. The detection capability of the residual X-Chart for the stationary reversible ARMA process will be studied in this paper. Conditions under which the residual X-Chart reduces or increases the detection capability are given.
计量
  • 文章访问数:  9
  • HTML全文浏览量:  0
  • PDF下载量:  4
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1999-06-07
  • 修回日期:  1999-10-07

目录

    /

    返回文章
    返回